晶体作为特殊固体，它由超多微观物质有序排列的结构体。微观物质单位包括分子、离子、原子。晶体拥有不同形态和规则排列结构。晶体物质拥有恒定的熔点，在熔化时，它温度一直不变。单晶体拥有各自的特点，属于几何外形的自范性，结构为相等晶面角。通过X光反射之后，物质能判断是不是晶体。下面微谱小编介绍一下晶体结构测定方法。
直接法
晶体物质通过实验方式，获得了X射线强度。这一强度通过数学公式计算之后，了解结构因子的相角，从而掌握晶体的结构。这一测试方式经常使用，用来测量中小分子的结构。
模型法
作为试差法，它通过模式方式，确定晶体的性质、结构、对称性、规则性，从而确定正确的模型结构。这一理论应用广泛，它实现晶体衍射强度的计算，将实验数值和计算数值比较，通过反复修改模型，确定***终模型，从而了解晶体结构。
照射法
大家将晶体样品和底片放置在相对位置上，当光源发射出X射线之后，通过底片掌握衍射花样。这一方式包括针孔模式、聚焦模式、德拜模式。德拜模式精经常使用。
衍射仪法
它使用布拉格实验装置测量晶体结构。仪器装置包括X射线测角设备、X射线发生器、辐射探索电路、辐射探测器等，采集不同晶体样品、多晶体样品，记录过程。
微谱实验室实现多种物质检测，晶体结构测定方法与时俱进。新式测试方法耗费晶体样品少，测试装置和工作原理非常简单，可以满足不同领域的检测需求。
